3月20日，備受矚目的慕尼黑上海光博會在上海新國際博覽中心開幕，晶飛科技憑借其在光譜儀領域雄厚的產品技術實力及卓越的市場表現受邀參展。

本次展會，晶飛科技立足高智能、高品質的產業基礎，重點推出“膜厚儀測試”、“拉曼測試”、“反射率測試”、“吸光度測試”、“透過率測試”五大解決方案，吸引了大批行業專家和觀眾的駐足與關注。參展同事積極為來訪人員答疑解惑，向他們詳細介紹晶飛科技品牌的歷史延革、產品的市場優勢及應用背景、解決方案的專業性和廣泛的應用場景，得到了專家和觀眾的一致認可。

后續，晶飛科技將進一步深耕光譜儀行業數字化、智能化，致力于成為領先的光譜儀智能整體解決方案的提供者，為國家的國產化事業不斷獻智獻策。熱烈歡迎行業專家及客戶參觀指導工作。