產品型號:
SPEC7000高精度快速光譜分析系統
產品特點:
配置高性能背照式面陣CCD (濱淞 S10420S)
采用多級分光技術,有效的降低雜散光
配置高精度恒溫箱,實現低溫漂
具快門功能,實現實時校零
采用獨特的FPGA技術,使CCD的控制時序精度到ns級,有效提高光度測試精度
典型應用:
LED芯片,成品光源,標準質檢工程機應用
閃光燈測試
實驗室專用高精度光譜分析系統
主要特性和功能:
ms級快速測試
寬線性動態范圍
極高靈敏度CCD
低雜散光水平
技術規格:
光學特性 | 探測器規格 | 濱松 S10420S(14*2048像素) |
光學平臺 | 平面光柵,焦距140mm | |
信噪比 | 500:1 | |
雜散光 | <0.8% | |
積分時間 | 0.1ms~1200ms | |
狹縫寬度 | 20um/50um/70/150 可選 | |
波長測量范圍 | 350nm~850nm | |
波長精度 | ±0.3nm | |
波長穩定度 | ±0.1nm | |
光度特性 | 光通量測量范圍 | 0.01lm-10000 lm(配置合適的積分球) |
光通量線性度 | 0.5% | |
光通量測試精度 | 1.50% | |
光通量測量穩定度 | ±0.8% | |
色度參數 | 色品坐標準確度 | ±0.002 |
色品坐標重復性 | ±0.0010 | |
色溫測量范圍 | 1500K~25000K | |
色溫準確度 | ±10K(標準A光源下) | |
顯色指數測量范圍 | R1~R15,0~100.0 | |
顯色指數測量誤差 | Ra:±1.0 CRI:±1.0 | |
其他特性 | 工作模式 | 支持脈沖測試 |